電路基板檢查機Micro Prober
實現生產效率與接觸精度兩全的行業標準電路基板用檢查裝置
在電路基板的電氣檢查工序中,直通率和吞吐量對生產效率有著決定性的作用。
雅馬哈的移動夾具方式?,解決傳統夾具方式與移動探針方式難以兩全的課題。
雅馬哈的移動夾具方式?,解決傳統夾具方式與移動探針方式難以兩全的課題。
Micro Prober的特點
生產效率與接觸精度兩全
- 小型夾具迅捷移動的移動夾具?方式檢查
- 無需移動基板,對單片進行高定位精度接觸
- ±5μm的高接觸精度,減少疑似不良和誤接觸
![[Image]生產效率與接觸精度兩全](./file/501/micro_prober_feature_img01.jpg)
高重復穩定性和再現性
- 采用Step&Repeat方式,重復進行相機定位與接觸
- 將基板伸縮的影響降至最低,提高接觸精度
- 使用上下獨立定位檢具,即使正反面有層間錯位也能穩定檢查
![[Image]高重復穩定性和再現性](./file/499/micro_prober_feature_img02.jpg)
薄板、大板都能矯平
- 4點夾緊&張力式基板握持機構
- 將基板的4角握持,朝XY方向施加最佳張力的獨有夾緊機構
- 難以操作的薄板、大板和翹曲嚴重的基板也能矯平
![[Image]薄板、大板都能矯平](./file/417/micro_prober_feature_img03.jpg)
無需依靠人工熟練度的操作體系
- 一鍵式夾具更換,大幅度減少開機、換料準備等作業成本
- 帶有接觸位置自動調整功能,任何人都能調整和保持最佳檢查條件
- 帶有高集成GUI,可充分發揮裝置性能
![[Image]無需依靠人工熟練度的操作體系](./file/498/micro_prober_feature_img04.jpg)
檢查可靠性保障體系
- 對夾具信息進行管理,提高維護性和防止裝錯的RFID系統
- 當場確認檢查結果統計信息,有助于工序改善的統計分析工具
- 可進行單片追溯管理的數據代碼管理功能
![[Image]檢查可靠性保障體系](./file/500/micro_prober_feature_img05.jpg)
支持高水平要求的檢查功能
- 高精度4端子檢查
- μ斷路檢查
- 火花檢出
- 加熱檢查
- 非接觸式檢查
![[Image]支持高水平要求的檢查功能](./file/508/micro_prober_feature_img06.jpg)
產品系列
FPC/半導體封裝基板用
標準機型MR262- Standard
- 260×400
最高級型號MR262E- Standard
- 260×500
標準機型·支持自動供給排出MR262-A- Standard
- 260×400
- Automatic
大板機型MR612- Large sheets
- 610×510
大板機型·支持自動供給排出MR612-A- Large sheets
- 610×510
- Automatic
小型機型MR262C- Compact
- 260×280
- Inline
Roll to Roll機型MR262-GFR- Roll to Roll
- W260
- Grip feeding
觸摸屏用
對象工件
![[Image]柔性基板](./file/451/work_flexible_img.jpg)
柔性基板
![[Image]剛柔性基板](./file/453/work_rigidflex_img.jpg)
剛柔性基板
![[Image]FC-CSP基板](./file/452/work_fc-csp_img.jpg)
FC-CSP基板
![[Image]FC-BGA基板](./file/454/work_fc-bga_img.jpg)
FC-BGA基板
![[Image]觸摸屏(ITO)](./file/455/work_touchpanel_img.jpg)
觸摸屏(ITO)

![[ Image ] 電測機的選擇方法](./file/875/select_mp_text_bnr.png)




